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为什么HoFCVD可以实现超大面积(≥10㎡)的镀膜均匀性?

为什么HoFCVD可以实现超大面积(≥10㎡)的镀膜均匀性?

  • 分类:技术服务
  • 作者:Haibin Huang
  • 来源:
  • 发布时间:2025-03-10
  • 访问量:0

【概要描述】

为什么HoFCVD可以实现超大面积(≥10㎡)的镀膜均匀性?

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CVD镀膜的均匀性,在镀膜区域基本的决定要素为:热场的均匀性、气体流场的均匀性,另外还有激发气体分解的能量场的均匀性(很多CVD设备里该部分功能是与热场重叠的)。首先我们来对比下PECVD和HoFCVD的几个影响均匀性的参数情况:

PECVD和HoFCVD均属于“冷壁式”CVD,即反应气体不会在腔体壁上因为腔壁的温度过高而发生反应。另外,PECVD是靠两个基板之间形成的电磁场来激发气体发生反应的,属于“场源”,而HoFCVD是通过热丝来激发气体反应的,属于“线源”,好像HoFCVD是唯一一种“线源”的CVD,其他无论冷壁式还是热壁式CVD的,激发源均是“场源”。

综合上表的对比,决定镀膜均匀性的影响因素:基本热场的情况二者相当;气压方面HoFCVD显著优于PECVD;激发能量源的均匀性HoFCVD显著优于PECVD。另,PECVD的高气压,结合其面结构的进气结构和四周抽气的结构,以及上电极与载板间空间结构,会造成从载板中间区域到载板边缘区域的气体“成份”浓度差,这也会造成最终镀膜性能的不均匀加强。所以,在镀膜均匀性方面HoFCVD显著优于PECVD,并且为实现均匀性的部件结构的设计要显著简单于PECVD。

1. PECVD中的驻波效应:由入射波和反射波重叠,出现波节和波腹。

2.PECVD 中驻波效应示意图(驻波效应导致甚高频下内部电磁场在大面积范围内分布不均匀)

3. PECVD中电子分布图及气源分布图 (图来源:https://mp.weixin.qq.com/s/VGexv3VxbYC4B6Qixbtejw PECVD工艺—氮化硅薄膜沉积数值计算

 

下面我们再来对比下作为热壁式CVD代表的LPCVD(LPCVD、磷扩散炉、硼扩散炉、均属于这一大类,甚至管式PECVD也具备其大部分特征),分析下它和HoFCVD的几个影响均匀性的参数情况:

综合上表的对比,决定镀膜均匀性的影响因素:热场情况二者各有优缺点;气流场的控制HoFCVD中因为空间结构和气压两个方面优势,其更易于实现均匀;在激发气体分解的能量场方面,LPCVD中,如果有多种反应气体,一般来说分解温度会有不同,或者在相同温度下的分解速率不同。热场结构结合进气出气的结构所造成的气流特性,导致从进气端到出气端的不同区域存在气体成分的差异。这种现象会让均匀性的控制变的更为复杂。而HoFCVD是冷壁式CVD,不存在上述问题,且反应气体只有碰到热丝才会被激发。

所以,在镀膜均匀性方面HoFCVD显著优于LPCVD。

图4.  管式LPCVD气体分解简图

由上述两个案例,我想大家应该很容易可以理解为什么HoFCVD可以实现大面积的均匀性,可以实现单次镀膜≥10m2的面积的镀膜均匀性了。我们汉可公司已经实现了在如下图所示大小的一次镀膜双载板的设备上,优于8%的的镀膜均匀性。

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